2026IEEE微电子测试结构国际会议

IEEE微电子测试结构国际会议（ICMTS）是专注于测试结构开发、测量和分析的顶级会议，为测试结构的设计者和用户提供了一个交流最新进展和未来发展方向的平台。

1、组委会

大会主席：Yuzo FUKUZAKI

技术项目主席：Kejun XIA；Tatsuya OHGURO

展览主席：Jun TANIGUCHI

• 设计
  • 方法论、验证
  • 用于工艺表征/监控的芯片内电路
  • 设计赋能——数字和模拟库的特性分析与验证
  • 器件与电路建模
• 测量技术
  • 直流、交流和射频测量：设置、测试和分析
  • 可靠性测试——包括热稳定性、失效分析等。
  • 统计分析、变异性、吞吐量提升、智能测试策略
  • 利用机器学习和人工智能进行数据集分析——参数提取等。
  • 晶圆探测、芯片内测量、在线计量
  • 吞吐量、测试策略、良率提升和过程控制测试
• 应用程序
  • 新兴存储技术（单细胞、阵列及其在神经网络中的应用）
  • 用于数字/模拟/功率应用的新兴晶体管技术
  • 光子器件——硅集成、新型显示器（OLED、μ-显示器）
  • 柔性电子器件和传感器（有机和无机材料）
  • M(N)EMS、致动器、传感器、光伏电池和其他新兴器件

1、投稿指南

作者提交的摘要最多为四页，PDF格式（字体嵌入）。首页应包含标题、50字摘要、作者姓名、完整地址、联系电话和电子邮件地址（第一作者），以及口头报告或海报展示的偏好。摘要正文应包含一页文字（800至1000字）和最多两页的主要图表。

2、重要日期

2025年4月至10月    作者准备摘要
2025年10月    摘要上传开始
2025年12月5日    摘要提交截止
2026年3月23日至26日 会议举办

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