IEEE Asian Test Symposium (ATS 2025) 是电子系统测试与可靠性领域的旗舰学术会议，由 IEEE Test Technology Technical Council (TTTC) 主办，致力于展示与推动集成电路与系统测试、故障诊断、可靠性评估及相关自动化设计方法的最新研究成果。第34届会议将于 2025年12月16日至19日 在日本东京国际展示场举行，并与 ITC-Asia 2025 联合举办。

会议内容涵盖数字、模拟与混合信号测试、片上系统与三维集成测试、测试生成与优化、容错计算、测试感知设计、人工智能在测试中的应用等多个前沿方向。ATS 鼓励学术界与产业界的深度合作与交流，是亚太地区最具影响力的测试领域会议之一。

1.出版与检索

出版平台：录用论文经由 IEEE CPS 出版，并收录于 IEEE Xplore，拥有正式 DOI，支持全文检索下载

元数据索引：会后将在 DBLP 上发布 conf/ats/2025 条目，涵盖论文标题、作者、DOI、BibTeX

核心数据库收录：包括 Scopus、Ei Compendex、Web of Science (CPCI) 等主流学术系统

开放平台支持：相应论文可通过 Google Scholar / Semantic Scholar 检索摘要、开放访问版本与引用统计

2.组委会：

主席：
Shi-Yu Huang，国立清华大学，台湾

副主席：
Hiroshi Takahashi，爱媛大学，日本

委员：
Krishnendu Chakrabarty，杜克大学，美国
Jinn-Lang Huang，国立台湾大学，台湾
Michiko Inoue，奈良先端科学技术大学院大学，日本
Tomoo Inoue，广岛市立大学，日本
Haruo Kobayashi，群马大学，日本
Jin-Fu Li，国立中央大学，台湾
Xiaowei Li，中国科学院，中国
Huawei Li，中国科学院，中国
Hafizur Rahaman，印度工程科学与技术学院，印度
Virendra Singh，印度科学研究院，印度
Sying-Jyan Wang，国立中兴大学，台湾
Xiaoqing Wen，九州工业大学，日本
Jing Ye，中国科学院，中国

• AI 测试和 AI 测试
• 模拟/混合信号测试
• ATE 设计
• 自动测试模式生成（ATPG）
• 自主测试
• 板级测试和诊断
• 边界扫描测试
• 内置自检 (BIST)
• CPU/GPU 测试
• 连通性测试
• 基于缺陷的测试
• 延迟和性能测试
• 可靠性和功能安全性
• 设计验证、确认和调试
• 可测试性设计（DFT）
• 诊断和硅片调试
• 故障诊断与失效分析
• 故障建模与仿真
• 容错
• 面向硬件的安全性和信任
• 高速 I/O 测试
• 异构测试
• 低功耗 IC 测试
• 测试中的机器学习
• 记忆测试、诊断和修复
• 多核/众核处理器测试
• 在线测试
• 片上测量
• 测试中的功率/热/可靠性问题
• 可重构系统测试
• 新兴/近似/量子计算的可靠性和测试
• 射频测试
• 汽车集成电路的安全和测试
• 自我修复 • SiP、Chiplet、2.5D 和 3D IC 测试
• 软件测试与可靠性
• 测试标准
• 片上系统测试
• 测试压缩
• 测试经济学
• 测试质量
• 测试合成
• 生物医学电路和系统测试
• MEMS 和微流体系统测试
• 纳米级设备和新兴技术测试
• 可逆电路和量子电路测试
• 传感器和物联网测试
• 产量分析、学习和提升

提交格式

论文提交应为完整的手稿，篇幅不得超过六页，采用标准的双栏格式。提交的论文将被视为证明作者在论文被录用后将提交最终的可打印版本以供收录，并将在研讨会/会议上进行演示。每篇被录用的论文在提交可打印版本以供收录时必须至少获得一次全额付费注册。如果论文未在活动中进行演示，ATS/ITC-Asia 保留将其从正式论文集中剔除的权利。

重要日期：

论文提交截止日期： 2025 年 7 月 22 日
录取通知： 2025 年 9 月 2 日
定稿： 2025 年 10 月 25 日

联系信息：

H. Ichihara 和 H. Yotsuyanagi，项目联合主席
项目联合主席 pc@ats-itc-asia2025.info.hiroshima-cu.ac.jp

项目联合主席 pc@ats-itc-asia2025.info.hiroshima-cu.ac.jp