第35届IEEE亚洲测试研讨会

第35届IEEE亚洲测试研讨会（ATS 2026）是电子测试领域首屈一指的国际论坛，将于2026年12月1日至3日在台湾高雄日航酒店举行。本次会议为来自全球的学术研究人员和行业专家提供了一个重要的交流平台，旨在促进突破性思想的交流和最新研究成果的展示。我们诚挚邀请您提交涵盖系统、模块和器件测试以及更广泛的测试技术各个方面的原创论文。

1、检索信息

所有被接收的论文都将提交至 IEEE Xplore 数据库，但需符合 IEEE Xplore 的收录范围和质量要求。

2、组委会

• 主席： Hiroshi Takahashi（爱媛大学）
• 副主席： Jing Ye（中国科学院）
• 委员：
  • Krishnendu Chakrabarty（亚利桑那州立大学）
  • Jinn-Lang Huang（国立台湾大学）
  • Shi-Yu Huang（国立清华大学）
  • Michiko Inoue（奈良先端科学技术大学院大学）
  • Hiroyuki Yotsuyanagi（德岛大学）
  • Koji Asami（东京大学）
  • Jin-Fu Li（国立中央大学）
  • Xiaowei Li（中国科学院）
  • Huawei Li（中国科学院）
  • Hafizur Rahaman（印度工程科学与技术学院）
  • Virendra Singh（印度科学学院）
  • Sying-Jyan Wang（国立中兴大学）
  • Xiaoqing Wen（九州工业大学）
  • Usha Mehta（尼尔玛大学）

1、投稿指南

所有稿件必须涉及与ATS技术范围相关的新研究。论文必须以 PDF 格式电子稿件提交，篇幅不超过 6 页，采用 IEEE 双栏格式（包括摘要、图表和参考文献）。

2、重要日期

• 提交截止日期：2026年7月7日
• 录取通知日期： 2026年9月14日
• 最终稿件提交日期： 2026年10月13日
• 会议日期：2026年12月1-3日

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