DFT 是一年一度的研讨会，旨在为 VLSI 和纳米技术系统（包括新兴技术）中的缺陷和容错领域提供开放的论坛，发表演讲。该研讨会的独特之处之一是将新的学术研究与最先进的工业数据相结合，这是该领域取得重大进展的必要条件。研讨会关注设计、制造、测试、可靠性和可用性等各个方面，这些方面受制造过程中的缺陷和系统运行过程中的故障的影响。

1、组委会

总联合主席：Jaume Abella、Barcelona Supercomputing Center, Spain

Ramon Canal、Universitat Politecnica de Catalunya, Spain

项目联合主席：Adrian Evans、CEA/LIST, France

Petr Fišer、Czech Technical University in Prague, Czech Republic

宣传主席：Shanshan Liu、University of Electronic Science and Technology of China, China

Bruno Forlin、University of Twente, The Netherlands

出版主席：Marcello Traiola、INRIA, France

网络主席：Tijmen Smit、University of Twente, The Netherlands

2、出版信息

论文集将由IEEE计算机学会出版，并发布于数字图书馆。

DFTS 2025 上被接受的论文的作者将被邀请将该作品的扩展版本提交到MICPRO期刊（IF：1.9，SJR：0.493，Q2） 的特刊， 该特刊专门针对2025 年会议。

1. 产量分析和建模
先进的产量模型、缺陷/故障分析、统计建模和关键区域分析。

2. 测试技术
数字、模拟和混合信号电路的创新测试方法，包括内置自测试、延迟故障测试、在线测试和2.5D/3D电路。

3. 针对现代 IC 的可测试性 DFT 设计
，包括 FPGA、SoC、NoC、GPU、ASIC、低功耗设计和 RISC-V 设计。

4. 错误检测、纠正和恢复
强大的错误处理策略，包括错误控制编码、故障屏蔽和恢复方案，使用硬件/软件技术和架构方法。

5. 可靠性分析和验证
严格评估系统可靠性，采用故障注入、跨层可靠性分析和基于 AI/ML 的方法。

6. 修复、重组和重新配置
用于容错和恢复的动态适应技术，包括自修复可重构电路和在线修复。

7. 缺陷和容错
在存在缺陷和故障的情况下设计可靠的系统，在关键应用中探索可靠系统的设计空间并解决瞬态/软故障。

8. 老化和辐射效应
辐射效应、纳米技术中的辐射诱导误差、辐射环境建模、新型辐射测试和模拟技术的开发以及抗辐射设计的开发。

9. 老化和寿命可靠性
了解老化机制，设计长期可靠性，并管理热和可变性挑战。

10. 新兴技术
量子计算、忆阻器件、自旋电子学、微流体学和近似计算的错误管理策略。

11. RISC-V
在可靠和安全的应用程序中采用开放 ISA。

12. 安全设计
保护 IC 免受故障攻击、硬件木马和其他安全威胁，安全性、可靠性和信任之间的相互作用。

13. 可靠应用和案例研究
可靠性技术在 2.5D/3D IC、物联网、汽车、航空航天、自主系统和人工智能系统中的实际应用。

14. 可持续性和绿色 EEE
强调节能环保的 EEE 设计的需求，包括低功耗设计技术和绿色制造工艺。

1、投稿要求

作者必须先提交一段摘要，然后提交最终论文以供评审。提交的论文不得超过6页，并遵循IEEE会议模板，即双栏格式（可在会议网站上获取）。论文可以作为普通论文或短文提交。两种类型的论文都将收录在IEEE论文集中。论文集的页数限制为普通论文6页，短文4页。如果提交的6页短文被接受为短文，作者必须将其缩减至4页才能发表。欢迎提交RISC-V峰会上已提交或正在提交的相关工作的全文。请参阅研讨会网页以获取最新信息。

2、重要时间

标题和摘要提交    2025年5月7日
全文提交    2025年5月14日
通知    2025年7月4日
相机准备就绪并作者注册    2025年7月31日

jaume.abella@bsc.es