第 30 届 IEEE 欧洲测试研讨会 (ETS) 是欧洲首屈一指的论坛，致力于展示和讨论电子电路和系统测试、可靠性、安全性和验证领域的科学成果、新兴想法、应用、热门话题和新趋势。
该研讨会由塔林理工大学（TalTech）组织，该大学与电子设计自动化 lEEE 委员会（CEDA）共同赞助此次活动。
除了常规的科学论文、主题演讲、特别会议、小组讨论和嵌入式教程外，ETS'25 还包含来自业界的论文/亮点/演示和供应商会议，以及一系列丰富的学生相关活动，包括博士论坛和博士论文竞赛。ETS 是欧洲测试周的重头戏，同期活动还包括测试春季学校 (TSS) 和周边研讨会。

1.出版与检索情况

论文集出版：由 IEEE Conference Publishing Services (CPS) 正式出版，收录至 IEEE Xplore，所有论文配有 DOI 并公开全文检索

元数据收录：

DBLP 会生成 conf/ets/2025 条目，记录标题、作者、DOI、BibTeX 等信息；

论文也将被 Scopus、Ei Compendex、Web of Science (CPCI) 等综合学术数据库收录；

可在 Google Scholar 和 Semantic Scholar 平台查看全文摘要和引用情况。

2.组委会

大会主席
Artur Jutman，爱沙尼亚
Jaan Raik，爱沙尼亚

大会副主席
Ioannis Voyiatzis，希腊
Dimitrios Soudris，希腊

程序委员会主席
Matteo Sonza Reorda，意大利
Arnaud Virazel，法国

程序委员会副主席
Motta Taouil，荷兰
Georgios Lentaris，希腊

本地组织负责人
Mohammad Hasan Ahmadilivani，爱沙尼亚（本地组织主席）
Mariann Lugus，爱沙尼亚（财务主席）
Merle Aadli，爱沙尼亚

周年纪念活动主席
Maksim Jenihhin，爱沙尼亚

特别会议主席
Angeliki Kritikakou，法国
Gildas Leger，西班牙

圆桌讨论主席
Mottaqiallah Taouil，荷兰
Elena-Ioana Vatajelu，法国

嵌入式教程主席
Stefano di Carlo，意大利
Liviu Miclea，罗马尼亚

产业委员会主席
Davide Appello，意大利
Filippo Persia，意大利

产业关系主席
Paolo Bernardi，意大利
Stephan Eggersglüß，德国

学生活动协调人
Leticia Bolzani Poehls，德国
Paolo Rech，意大利

McCluskey 博士论文竞赛主席
Tara Ghasempouri，爱沙尼亚
Stelios Neophytou，塞浦路斯

博士论坛主席
Bastien Deveautour，法国
Sebastian Huhn，德国

出版主席
Anteneh Gebregiorgis，荷兰
Esteban Rodriguez，意大利

宣传主席
Alexandra Kourfali，德国
Marcello Traiola，法国

奖项主席
Sybille Hellebrand，德国
Zebo Peng，瑞典

地区联络主席
Said Hamdioui，荷兰
Sule Ozev，美国
Ernesto Sanchez，意大利
Xiaoqin Wen，日本

ETS 边会研讨会主席
Mihalis Psarakis，希腊
Alessandro Savino，意大利

测试春季学校（TSS）主席
Elena Ioana Vatajelu，法国
Maria Michael，塞浦路斯

网站主席
Tarmo Robal，爱沙尼亚

• 3D IC 和 SiP 测试
• 模拟、混合信号和射频测试
• 近似电路测试
• ATE 硬件和软件
• 自动测试生成
• 汽车和航空电子测试
• 电路板测试与诊断
• 内置自检
• 基于电流的测试
• 基于缺陷的测试
• 延迟和性能测试
• 可靠性
• 测试设计
• DfX（制造设计、可靠性设计、产量设计等）
• 诊断和硅片调试
• 测试经济学
• 额外功能方面
• 故障分析
• 故障建模
• 故障模拟
• 容错
• 功能安全
• 硬件安全
• 异构和新兴架构
• 高速 I/0 测试
• IoT 和 CPS 可靠性
• 低功耗测试
• 机器学习与测试
• 内存测试与修复
• 微系统/MEMS/传感器测试
• 在线测试
• 功率/热感知测试
• 处理器测试（多核、GPU、CPU、神经形态等）
• 安全测试权衡
• 自我 X（意识、修复、测试等）
• 信号完整性测试
• SoC 和 NoC 测试
• 测试标准
• 可逆电路和量子电路测试
• 可重构系统测试（FPGA、CPLD 等）
• 新兴技术的测试、可靠性和安全性
• 木马检测
• 验证和确认
• 产量分析与提升

1.投稿要求

• 每篇提交的论文均应为完整的 PDF 手稿，最多六 (6) 页（包含所有图表、表格和参考文献），并采用标准 IEEE 格式：A4 页面，两栏，单倍行距，10 号 Times New Roman 字体。IEEE 模板和指南可在此处找到。
• ETS 实行单盲评审流程（即作者不知道评审人是谁，但评审人知道作者是谁）。因此，投稿不应匿名。
• 被认定为多次提交至其他会议和/或期刊的论文将被拒稿。作者应遵守 IEEE 投稿和同行评审政策，包括最新的剽窃政策以及 AI 生成文本指南。

2.常规/研究论文的关键日期

• 提交标题、摘要、作者：2024 年 12 月 1 日、 12 月 9 日
• 全文提交：2024 年 12 月 8 日、 12 月 15 日 （AOE——地球上的任何地方）
• 录取通知：2025年2月14日
• 定稿：2025年3月14日
• 作者注册：2025年3月31日

3.出版物

ETS'25 将制作电子版正式论文集，并附有 ISBN 编号，将被 IEEE Xplore 数字图书馆和其他书目搜索引擎收录。科学论文可接受以下类别：

• 口头陈述 ：您将被要求准备一份最终的 6 页手稿，以纳入正式会议记录；
• 海报展示 ：在这种情况下，正式会议记录中将包含一份 4 页的论文。
• 正式会议记录将包含所有被接受的全文和海报的 PDF 文件。

artur@ testonica.com