IEEE VLSI Test Symposium 2025(VTS 2025)是由IEEE计算机学会测试技术委员会(TTTC)主办的全球集成电路与系统测试领域的重要国际会议。自1983年创办以来,VTS始终聚焦于VLSI电路及系统的测试、验证、可靠性和安全等关键议题,已成为该领域学术研究与工业实践的重要交流平台。第43届会议将于2025年4月28日至30日在美国亚利桑那州坦佩(Tempe, AZ)举行,围绕数字与混合信号测试、片上系统测试、容错设计、AI辅助测试、先进封装和新兴架构测试等前沿主题展开深入探讨。会议录用的论文将由IEEE正式出版,收录于IEEE Xplore数据库,并被EI、Scopus等核心文献数据库检索。VTS 2025旨在为学术界与产业界搭建一个高质量、高水平的合作与对话平台,推动测试技术持续创新与发展。