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会议简介 Brief Introduction01

ETS(European Test Symposium)是欧洲首屈一指的电子测试领域学术论坛,也是欧洲测试周(European Test Week)的核心活动。ETS 2027是该系列会议的第32届,欢迎提交新颖、未发表且完整的研究论文,经同行评审后可能被接受为6页全文(口头报告)或4页短文(海报展示)

重要信息 Highlights02

1. 检索信息
ETS系列会议论文长期被 EI Compendex 和 Scopus 收录。会议论文集由 IEEE Xplore 出版。ETS 2027的论文在正式录用并完成现场报告后,将提交至IEEE Xplore收录,进而被EI和Scopus检索。

2. 出版信息
论文提交后需经过同行评审,录用论文将纳入正式会议论文集(formal proceedings),由IEEE出版并提交至IEEE Xplore。所有录用的6页全文需进行现场口头报告,4页短文需进行海报展示。未在会议上进行适当报告的论文将从IEEE Xplore中移除。

3. 组委会信息
姓名                            单位
Lee Harrison                    Siemens EDA, UK
Gareth Taylor                   Brunel University of London
Leticia Maria Bolzani Pöhls     IHP, Germany

征稿主题 Call for Paper03

ETS 2027的征稿主题(Areas of Interest)包括以下8个Track:

  1. Track 1 – 可信赖AI与AI用于测试(Dependable AI and AI for Testing)
  2. Track 2 – 功能安全、容错与可靠性(Functional Safety, Fault Tolerance and Reliability)
  3. Track 3 – 新兴技术与架构的方法(Methods for Emerging Technologies and Architectures)
  4. Track 4 – 安全与信任(Security and Trust)
  5. Track 5 – 模拟、混合信号和射频的测试与可靠性(Test and Reliability for Analog, Mixed-Signal, and RF)
  6. Track 6 – DFT、测试访问标准与测试应用(DFT, Test Access Standards and Test Application)
  7. Track 7 – 验证、确认与调试(Validation, Verification, and Debug)
  8. Track 8 – 测试生成、故障建模与仿真、诊断(Test Generation, Fault Modelling & Simulation, Diagnosis)

会议投稿 Conference submission 04

  1. 提交格式:完整的PDF稿件,最多6页(含所有图表和参考文献),须符合标准IEEE格式:A4纸张、双栏、单倍行距、10号Times New Roman字体。
  2. 评审方式:单盲评审(作者不知道评审人,但评审人知道作者),因此投稿不需要匿名化。
  3. 提交链接:https://welcome.molesystems.com/tttc/ETS/2027